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      "description": "通过最大化探针实现可见性优化定位 NanoWorld® Arrow™ CONT 探针专为接触模式成像而设计的。此外，这种类型可用于力调制距离光谱模式或脉冲力调制模式 (PFM)。由于力常数较低，CONT 类型针对高灵敏度进行了优化。 Arrow™ 系列的所有 SPM 和 AFM 探针均由单片硅制成，该硅经过高度掺杂以消散静电荷。它们是化学惰性的，并提供高机械 Q 因子以实现高灵敏度。这些探针具有矩形悬臂，具有三角形自由端和四面体针尖，典型高度为 10 - 15 µm。 此外，该探针的针尖曲率半径小于 10 nm。 探针在悬臂最末端的位置以及其独特 Arrow™ 形状允许将探针轻松定位在感兴趣的区域。 悬臂的梯形横截面和因此以30%（例如 NCH）更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外，因为有更多的空间来放置和反射激光束，所以可以达到更高的 SUM 信号。",
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      "description": "NanoWorld® Pointprobe® CCONT 探针是专为用于接触模式成像而设计的。此外，该探针可用于力-距离光谱模式或脉冲力模式 (PFM)。由于力常数低，CONT 类型针对高灵敏度进行了优化。 Pointprobe® 系列的所有 SPM 和 AFM 探针由单片硅制成，高度掺杂以消散静电荷。它们是化学惰性的，并提供高机械 Q 因子以实现高灵敏度。针尖的形状类似于基于多边形的金字塔，典型高度为 10 - 15 µm。 此外，这探针的典型针尖曲率半径小于 8 nm。 悬臂的梯形横截面和因此以30%（例如 NCH）更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外，因为有更多的空间来放置和反射激光束，所以可以达到更高的 SUM 信号。",
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      "name": "CONTSC Pointprobe® 硅 AFM 探针",
      "description": "NanoWorld® Pointprobe® CONTSC AFM 探针是用于接触模式应用的另一种悬臂梁类型。相对于首选的接触模式类型，悬臂的长度有所减少，从而可以更轻松地与某些 AFM 仪器的非接触模式探针进行更换。此外，这种探针类型允许应用横向或摩擦力模式。 Pointprobe® 系列的所有 SPM 和 AFM 探针均由单片硅制成，该硅经过高度掺杂以消散静电荷。它们是化学惰性的，并提供高机械 Q 因子以实现高灵敏度。这些探针形状类似于基于多边形的金字塔，典型高度为 10 - 15 µm。 此外，这探针的针尖曲率半径小于 8 nm。 悬臂的梯形横截面和因此以30%（例如 NCH）更宽的悬臂探测器侧导致更容易和更快的激光调整。此外，因为有更多的空间来放置和反射激光束，所以可以达到更高的 SUM 信号。",
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